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HAG-2000基準級光澤度儀是實現(xiàn)基準級光澤度和相對測量的科學級儀器，主要用于光澤度標準板檢定，光澤標準數(shù)據(jù)量值傳遞?？删_測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測量方式避免了相對測量中因標準板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復性好。

HAG-2000基準級光澤度儀?是實現(xiàn)基準級光澤度和相對測量的科學級儀器，主要用于光澤度標準板檢定，光澤標準數(shù)據(jù)量值傳遞?？删_測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測量方式避免了相對測量中因標準板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復性好。是實現(xiàn)基準級光澤度和相對測量的科學級儀器，主要用于光澤度標準板檢定，光澤標準數(shù)據(jù)量值傳遞。可精確測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測量方式避免了相對測量中因標準板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復性好。

HAG-2000基準級光澤度儀?主要特點

● 光澤度測量不確定度U≤0.7，(k=3)，滿足JJG 2069光澤度基準要求；

● 光澤度和相對測量可選；

● 采用精密對準裝置實現(xiàn)角度精確定位，角度精度高達0.01；

● 探測器接收立體角*符合ISO，ASTM，GB，TAPPI, JIS等標準的測量幾何要求，精確接收鏡面反射光；

● 光源與探測器通過濾色片精確匹配CIE C光源和CIE光視效率函數(shù)V（λ）；

● 掃描各角度的反射率分布曲線，還可以比較標準和被測樣品的表面分布差異。

 

參數(shù)	HAG-2000
測量角度	20°、45°、60°、75°、85°
接收角度精度	±0.01°
測量范圍	0.1-2000GU
測量誤差	±1.0 GU
零值誤差	0.1
分辨率	0-100：0.1；100-1000: 1
測量重復性	0-100：±0.2GU；>100: ±0.2%