X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240

X射線鍍層測厚儀簡介：

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應用領域有：

• 測量大規(guī)模生產的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

• 測量印刷線路板

• 分析電鍍溶液