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參考價(jià)	面議

原價(jià)	￥1500
參考價(jià)	￥1000	￥900	￥800
訂貨量	1-2000臺(tái)	2000-4000臺(tái)	4000-6000臺(tái)

產(chǎn)品分類 品牌分類

產(chǎn)品簡介

應(yīng)用領(lǐng)域	綜合	光學(xué)系統(tǒng)：	同時(shí)3種通道檢測，可到達(dá)分辨率0.1um
?速系統(tǒng)：	6 inch 只要3分鐘	復(fù)判判斷：	內(nèi)建整合DIC顯微鏡，可透過?倍率的?式對(duì)于瑕疵進(jìn)?影像確認(rèn)與分析.
分類模塊：	可針對(duì)瑕疵尺???進(jìn)?分類統(tǒng)計(jì)，后續(xù)還可對(duì)于不同通道的訊號(hào)進(jìn)?AI瑕疵分類.

Wafer光學(xué)量/檢測系統(tǒng)
?動(dòng)?業(yè)顯微鏡系統(tǒng) (5X~150X)
Wafer 表?瑕疵檢測系統(tǒng) (1um)
Particle counter檢測設(shè)備 (0.1um)
光學(xué)系統(tǒng)：同時(shí)3種通道檢測，可到達(dá)分辨率0.1um
?速系統(tǒng)： 6 inch 只要3分鐘
復(fù)判判斷：內(nèi)建整合DIC顯微鏡，可透過?倍率的?式對(duì)于瑕疵進(jìn)?影像確認(rèn)與分析.
分類模塊：可針對(duì)瑕疵尺???進(jìn)?分類統(tǒng)計(jì)

詳細(xì)介紹

具備各種光學(xué)之應(yīng)?與設(shè)備制造能?, 多年的產(chǎn)業(yè)經(jīng)驗(yàn), 可靈活的搭配不同光機(jī)硬件設(shè)計(jì), 并且客制化對(duì)應(yīng)各種所需在線系統(tǒng)。完善的軟件團(tuán)隊(duì)開發(fā)團(tuán)隊(duì), 開發(fā)3D量測軟件, 同時(shí)也??建構(gòu)AI辨識(shí)系統(tǒng), 可根據(jù)項(xiàng)?需求提供客戶最完整的解決?案。具有SEMS 認(rèn)證，特別開發(fā)應(yīng)?于第三代半導(dǎo)體材料，克服透明與半透明材料的尋邊對(duì)位，可對(duì)不同尺寸晶圓進(jìn)?傳送與檢驗(yàn)。