MC-2000C涂層測厚儀管道測厚儀

產(chǎn)品特點(diǎn)

輕松讀?。?/span>可存入測量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，讀出已存入的測量數(shù)據(jù)。

1、測量范圍：

MC-2000 A 型測量范圍：0-1500um
MC-2000 C 型測量范圍：0-5000um
MC-2000 D 型測量范圍：10-9000um 
可訂做管道內(nèi)涂（鍍）層測頭，30mm管徑以上

MC-2000C涂層測厚儀管道測厚儀

 MC-2000C型涂鍍層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭

產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。

2、測量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示

二、MC-2000C涂層測厚儀產(chǎn)品性能

1、測量范圍：　　0～5000um

2、測量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測量：   　  單探頭全量程測厚

   (2).存儲(chǔ)、刪除： 可存入測量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

   (3).讀：　 讀出已存入的測量數(shù)據(jù)

   (4).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值zui大值zui小值

   (5).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)

   (6).電量： 具有欠壓顯示功能

   (7).打?。?可打印測量值，選配微型打印機(jī)

   (8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

6、電源：    　　　  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：      　　　zui大功耗100mw

8、外形盡寸：    　51mm*126mm*27mm

9、重量：　　　　　 160g（含電池）

10、使用環(huán)境溫度：　0℃～+40℃  相對(duì)濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度：     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑：   7mm

13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：       右上角顯示＂＂

*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度 

高精度涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 　◆磁性法(f型測頭)：當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時(shí)，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。 　◆渦流法(n型測頭)：利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場，當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過測量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

高精度涂層測厚儀（多用型）是一種多功能實(shí)用型便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。

的使用方法

使用涂層測厚儀時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定：
a基體金屬特性對(duì)于磁性方法，規(guī)范片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，規(guī)范片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c邊緣效應(yīng)不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
d曲率不應(yīng)在試件的彎曲外表上測量。
e讀數(shù)次數(shù)通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必需在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。
覆蓋層厚度的局部差別，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量，外表粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f外表清潔度丈量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。