產(chǎn)品介紹：

靶標(biāo)是用于測試光電成像系統(tǒng)時創(chuàng)建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標(biāo)可分為兩類:1)無源靶標(biāo)，2)有源靶標(biāo)。無源靶標(biāo)需要由黑體或標(biāo)定光源產(chǎn)生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標(biāo)通常是大型測試系統(tǒng)位于平行光管焦平面的小模塊。無源靶標(biāo)的工作不需要電力供應(yīng)。這些標(biāo)準(zhǔn)的小尺寸靶標(biāo)作為Inframet制造的大型模塊化測試系統(tǒng)(如DT, TAIM, TVT, MS)的一部分。

有源靶標(biāo)是通過其自身的熱輻射或由人造光源發(fā)出的反射光創(chuàng)建參考圖案。這些目標(biāo)通常是大型的獨(dú)立模塊（尺寸從500mm到3000mm），需要電才能正常工作。被測光電成像儀可直接看到有源靶標(biāo)。這些靶標(biāo)用于測試融合成像儀的融合算法或作為熱像儀/ VIS-NIR相機(jī)分辨率靶標(biāo)的流行解決方案。FUT系列靶標(biāo)是有源靶標(biāo)，通常用于測試融合成像系統(tǒng)或熱像儀。

經(jīng)典熱圖像與可見光圖像的融合成像系統(tǒng)擁有更強(qiáng)的監(jiān)視能力。融合系統(tǒng)通常使用一個多傳感器成像系統(tǒng)，由一個熱像儀和一個可見光相機(jī)(或夜視設(shè)備和可見光相機(jī))組成，圖像的融合可以采用光學(xué)方法或數(shù)字圖像處理方法。

由于各種原因，生成高分辨率融合圖像較為困難，其中一個原因是需要校正不同成像傳感器產(chǎn)生的圖像的畸變和放大程度的差異，優(yōu)化圖像校正算法需要對所有成像傳感器均可見的已知幾何形狀的特定目標(biāo)進(jìn)行研究。

Inframet提供支持雙通道融合圖像的棋盤式FUT靶標(biāo)，能夠發(fā)射熱輻射(靶標(biāo)實際上是一個調(diào)節(jié)均勻溫度的大面積輻射源)，也能反射可見光/近紅外范圍內(nèi)的入射輻射。因此，無論是在中波紅外/長波紅外范圍內(nèi)工作的熱像儀，還是在可見光/近紅外范圍內(nèi)工作的夜視儀/相機(jī)，都可以看到相同圖像。該靶標(biāo)可用于確定熱成像相對于可見光圖像的空間位移二維圖。

產(chǎn)品原理：

FUT靶標(biāo)為棋盤型靶標(biāo)，采用大面積、均勻溫度的輻射源，經(jīng)表面加工后在高發(fā)射率背景下實現(xiàn)低發(fā)射率。FUT靶標(biāo)尺寸較大，能夠填充被測融合成像系統(tǒng)的視野。利用熱像儀和可見光/近紅外成像傳感器對FUT靶標(biāo)進(jìn)行圖像采集，為有效的圖像融合提供了必要的數(shù)據(jù)。

FUT靶標(biāo)是一種均勻加熱的靶標(biāo)，通常不能夠進(jìn)行調(diào)節(jié)高溫度。操作較為簡單，插上電源加熱十幾分鐘穩(wěn)定后就可進(jìn)行使用。

測試功能：

FUT靶標(biāo)可以用于以下測試：

•對準(zhǔn)誤差（熱通道光軸相對于可見光通道光軸的角度）

•旋轉(zhuǎn)誤差（熱通道圖像與可見通道圖像之間的角度）

•熱成像通道圖像相對于可見成像通道圖像的二維空間位移圖（與另一通道中的同一像素相比，像素的位移量和位移方向的信息）

•熱像儀分辨率測試

版本型號：

FUT以下列不同標(biāo)準(zhǔn)尺寸的形式提供：

FUT118：輻射源尺寸1100x800mm（11x8個100mm大小正方形區(qū)域）；

FUT1511：輻射源尺寸1500x1100mm（15x11個100mm大小正方形區(qū)域）；

FUT2020：輻射源尺寸1900x1900mm（19x19個100mm大小正方形區(qū)域）；

FUT2216：輻射源尺寸2200x1600mm（22x16個100mm大小正方形區(qū)域）。

還可以定制化交付不同尺寸和圖案的定制化FUT靶標(biāo)。

產(chǎn)品參數(shù)：