尼康Ci偏光顯微鏡觀察西藥結(jié)晶晶體顆粒

尼康ECLIPSE Ci 系列偏光顯微鏡（如Ci-POL）在觀察西藥結(jié)晶晶體顆粒中具有顯著優(yōu)勢，其光學(xué)性能與功能設(shè)計(jì)能夠滿足藥物結(jié)晶研究的精細(xì)化需求。以下從設(shè)備特性、操作流程及分析方法三個維度展開說明：

尼康ECLIPSE Ci設(shè)備特性

尼康ECLIPSE Ci偏光顯微鏡采用CFI60無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，搭配前端物鏡與勃氏鏡配置，可實(shí)現(xiàn)無色差成像。其偏光觀察功能通過起偏器與檢偏器組合，可呈現(xiàn)晶體雙折射特性，例如不同晶型藥物在偏振光下呈現(xiàn)的干涉色差異。設(shè)備支持360°旋轉(zhuǎn)檢偏器，最小讀數(shù)精度達(dá)0.1°，配合1μm級微調(diào)焦系統(tǒng)，可精確捕捉晶體生長過程中的細(xì)微變化。

尼康ECLIPSE Ci操作流程

樣品制備：將藥物溶液滴加至載玻片并覆蓋蓋玻片，需避免氣泡產(chǎn)生。對于難溶性藥物，可通過加熱或攪拌輔助溶解。

設(shè)備調(diào)試：通過粗/細(xì)調(diào)焦旋鈕對焦，選擇5-100倍物鏡（如CFI TU Plan Fluor P系列），利用鹵素?zé)粽{(diào)節(jié)亮度至合適水平。

模式切換：在明場模式下觀察晶體形態(tài)后，切換至偏光模式觀察干涉色，或采用錐光模式分析晶體光學(xué)性質(zhì)。

尼康ECLIPSE Ci分析方法

形態(tài)分析：通過偏光圖像識別晶體晶型（如針狀、片狀、柱狀），觀察晶體邊緣規(guī)則性與表面光滑度。

尺寸測量：利用成像軟件測量晶體尺寸，計(jì)算生長速率。例如，LV100顯微鏡可設(shè)置定時拍攝功能，記錄結(jié)晶過程。

晶型鑒定：不同晶型藥物在偏光顯微鏡下呈現(xiàn)自有的光學(xué)特征，如石英楔形補(bǔ)償器可輔助分析晶體取向。

尼康ECLIPSE Ci關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

光學(xué)系統(tǒng)：CFI60無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，支持長工作距離與高NA值

照明系統(tǒng)：50W鹵素?zé)簦炼瘸?00W傳統(tǒng)燈泡），配備ND8、ND4濾色塊

載物臺：360°旋轉(zhuǎn)高精度圓形載物臺，1°增量刻度

物鏡選擇：CFI P Achromat系列（用于透射照明）、CFI TU Plan Fluor Epi P系列（透反射兩用）

應(yīng)用場景

尼康Ci偏光顯微鏡觀察西藥結(jié)晶晶體顆粒

該設(shè)備適用于藥物研發(fā)中的結(jié)晶過程監(jiān)控，例如通過實(shí)時拍攝功能記錄晶體成核、生長及相互作用過程。其偏光觀察能力可揭示藥物晶型轉(zhuǎn)變機(jī)制，為優(yōu)化結(jié)晶工藝提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。