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致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀產(chǎn)品特色

●測試參數(shù):Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs,Rp, D,Q

●測試頻率:100kHz~300MHz

●量測范圍:100mΩ~5kΩ

●量測速度:0.5/0.9/2.1/3.7(ms)

●基本準確度:±0.8% % (typical ±0.45%)

●測試輸出能量:-40~1(dBm)

●量測模式:單點(Point)/多點(List)

●測試訊號(Vm,lm)監(jiān)測功能

●比較與分類(13bins)選別功能

●接觸檢查(Rdc 0.1Ω~100Ω @ 1mA max)

●開短路校正與載入補償功能

●標準介面: Handler、RS-232C、GPIB、LAN、USB(A& B type)

致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀特點

●寬的測試頻率:100kHz~300MHz

●快速的測試速度:0.5ms/point

●多樣性的功能

●校正/補償狀態(tài)指引

●提供磁性元件以Rdc為接觸檢查

●多參數(shù)比較與分類功能

●0~401點多點測試與曲線繪圖功能

●清晰與引導(dǎo)式操作

●操作快速的SMD測試治具

應(yīng)用領(lǐng)域

SMD電感(壓模電感/積層電感/磁珠等)

EMI共模線圈

其他被動元件

高達300MHz的測試頻率

高頻小型化的功率電感多為金屬壓模式電感，但①原始磁材不良(金屬顆粒大/鐵氧層不良)或②層間耐壓測試后局部鐵氧層破壞或③線圈漆包破損與磁材直接接觸都會造成Q值降低，在后續(xù)使用容易過熱。要檢出此三類異常，以一般感量之標稱頻率測試狀態(tài)，因電感阻抗狀態(tài)低，Q值多被探針接觸電阻所左右。

故提高測試頻率進而提高感抗以降低探針接觸電阻之影響，可提升磁材異常與線材絕緣異常的檢出率，此方法廣為業(yè)界所采用。

導(dǎo)磁金屬粉末表面大都處理氧化層來降低高頻交流帶來的渦流損失來提高可使用頻域，降低損失及溫升，但一般用戶是無法從外觀知道磁材的顆粒大小與經(jīng)過壓模燒結(jié)后氧化層是否完好，但透過高頻測試則容易判別。

電感在高頻的等效電路與Ls與Q的關(guān)系式如(圖一)，一般業(yè)界雖以接近電感自振頻率(SRF)之Ls在檢測前述品質(zhì)異常，實質(zhì)上是在檢測其Q值是否低下，但可避開接觸電阻影響。一般正常品在SRF附近Ls因寄生容量關(guān)系較高，異常品則受損失過大所累Q值低下，表象Ls也偏低。 Chroma11090-030 100kHz~300MHz測試頻域滿足標稱Ls/Q與高頻Ls@HF的雙重測試需求，可滿足此類電感在生產(chǎn)的使用需求，另外在其RD與品?；螂姼惺褂谜叨己苓m用。

▲ (圖一) 電感在高頻的等效電路與Ls與Q的關(guān)系式

▲ (圖二) 取樣品實測兩個曲線說明

阻抗量測與準確度

Chroma 11090-030采用RF-IV測量方法量測待測物(DUT)的電壓和電流，與一般網(wǎng)絡(luò)分析儀相比較，此儀器能夠在較寬的阻抗范圍(100mΩ~5kΩ)內(nèi)進行更準確的測量，其優(yōu)勢在于可測量的電感值非常小，約為數(shù)個nH。此外，11090-030具備100kHz~300MHz的寬范圍測試頻率，若被測物的測試有數(shù)百kHz以及高頻數(shù)MHz雙頻以上需求時，生產(chǎn)測試儀器則不用分兩臺或兩站進行測試，故能降低儀器成本。

▲ 量測時間Slow, 測試訊號 1dBm, 平均次數(shù)≧8, at 23℃

註1. Avg = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)

註2. Freq = 100 MHz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)

註3. Freq = 1 MHz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)

特色功能

校正/補償指引功能

射頻LCR測量非常依賴正確的校正(OPEN/SHORT/LOAD)，過程錯誤或漏掉某一項則很容易造成錯誤的結(jié)果。 11090-030具有向?qū)Чδ艿男Ｕ?補償方法能消除繁瑣的校正/補償程序之錯誤，讓用戶具有引導(dǎo)式校正程序，降低漏掉項目的風險、并且有圖示指引降低取錯標準件的錯誤，對于已完成校正程序者，測試畫面也有對應(yīng)的顯示。

▲ 校正/補償程序設(shè)定

▲ 校正程序設(shè)定

▲ 補償程序設(shè)定

提供磁性元件以Rdc為接觸檢查

射頻LCR表對應(yīng)之SMD元件一般尺寸都很小，在對應(yīng)測試治具或自動化測試之接觸好壞皆很難直觀確認。 11090-030提供磁性元件以Rdc為接觸檢查功能，由于Rdc為一無需校正之參數(shù)，而且在磁性元件(電感、EMI Filter、bead)之接觸確認最為直接，此功能協(xié)助生產(chǎn)線中的測試達到更精準的分揀錯誤，提高不良品分類的準確性和效率。

多參數(shù)比較與分類功能

射頻測試在不同頻域的良品或不良品判定可能因其參數(shù)不同，使用絕對值或百分比不同、注重之主副參數(shù)不同、高低判定方式也不同。 Chroma 11090-030提供非常具彈性的表列式，且最多達13 bins，每個bin有四個限制值。頻率和測量參數(shù)等條件可以在每列中獨立設(shè)置，使11090-030能夠滿足多樣性的分選需求，包括不同測量頻率下的不同參數(shù)。

~401點之多點測試與曲線繪圖功能

RF元件常需跨多頻域分析其參數(shù)頻響變化，11090-030多點量測功能可設(shè)定最多401點，提供用戶更詳細且精準的量測數(shù)值，同時可以選擇多點列表與特性曲線繪制提供生產(chǎn)測試或分析人員快速了解元件頻率特性。

▲ 多點列表

▲ 多參數(shù)曲線同時繪圖

▲ 單一參數(shù)曲線繪圖

清晰與引導(dǎo)式操作

采用觸控、全彩、高分辨率液晶顯示，同時清晰顯示多參數(shù)測試結(jié)果與設(shè)定狀態(tài)及比較或分選結(jié)果或與參考值的差異，并且以簡潔的圖標指示儀器狀況與指引快速操作，替用戶提供更直觀操作及更完整的資訊。

操作快速的SMD測試治具

SMD尺寸細微且多元，需要極度精密的特殊材料提供限位，但若更換尺寸皆需重新組裝限位墊片，不僅耗時且容易損耗昂貴的組件與限位墊片。符合多種小型的SMD測試治具，采用改進的下壓方式，可旋轉(zhuǎn)90度并只需要三個步驟來更換被測物(實際測試約40秒)，能替用戶減少更換被測物時間、加快測試速度、免除反覆拆裝限位墊片，進而減少損耗與維護費用。

標準的傳輸接口

11090-030擁有完整的接口配置，其中包含了設(shè)定量測條件、觸發(fā)量測動作、判定量測結(jié)果與搜集量測數(shù)據(jù)的通信接口，更包括LAN、GPIB、USB(B-Type)、RS- 232接口與儲存接口USB(A-Type)，以及可藉由Handler接口觸發(fā)量測并將此判斷結(jié)果傳送至外部。

面板說明

▲ 注：USB接頭連接不可用于『行動電源充電』、『手機充電』或是『電流需求超過0.5A』的連接設(shè)備。