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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 能源,電子/電池,電氣 |
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JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕松拍攝高分辨率圖像的SEM" 為理念而推出的HR*系列的第四代產(chǎn)品。操作的自動化和觀察性能的提高，可以實現(xiàn)用戶從可以看見到對未知的探索。
清晰的可見性促進新發(fā)現(xiàn)！
目前，除了納米級的分辨率和分析性能外，數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕松拍攝高分辨率圖像的SEM" 為理念而推出的HR*系列的第四代產(chǎn)品。
JSM-IT710HR操作的自動化和觀察性能的提高，可以實現(xiàn)用戶從可以看見到對未知的探索。
/// 超越所見，探索未知 ///
降低荷電: 樣品提供：東京農(nóng)工大學 工學部生命工學科 朝倉哲郎先生
晶體結(jié)構分析: 樣品提供：物質(zhì)材料研究所(NIMS) 津﨑 兼彰先生
日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡
新功能
1. 自動觀察：Simple SEM/EDS
Simple SEM 通過一次設定多個條件來實現(xiàn)自動測試，提高了日常工作效率。
2. Live 3D: 實時3D
在低倍率下可以觀察3D活圖像。
3. 低真空混合二次電子檢測器（LHSED）
LHSED是新型低真空檢測器，能夠在光發(fā)射信息和形貌像之間切換觀察。
4. 肖特基場發(fā)射電子槍的穩(wěn)定性提高了4倍多
> 自動電子束調(diào)整
JSM-IT7010HR從合軸到像散、對焦可以自動調(diào)整，不需繁瑣的手動。
> 二次電子檢測系統(tǒng)
左側(cè)樣品：孔雀羽毛, 右側(cè)樣品：纖維素微纖維
> 高分辨率和大束流
JSM-IT710HR的肖特基場發(fā)射電子槍和聚光鏡一體化集成，在生成大束流的同時保持小束斑，能夠進行高分辨觀察和分析。
> 背散射電子檢測系統(tǒng)
新型的多分割背散射檢測器可以同時從4個方向采集背散射信息，生成簡單的3D像并實時顯示。
5. 所有分析都從Zeromag開始
使用Zeromag的光學像，視野搜尋能力提高；SEM像與光學像聯(lián)動，觀察、分析和自動測試簡單化。
6. EDS一體化集成
JEOL除了SEM，還自主生產(chǎn)和銷售EDS。利用這一優(yōu)勢，可以集中操作和管理SEM的觀察畫面和EDS分析結(jié)果，操作性和數(shù)據(jù)管理能力得到了提高。
7. 相分析
JEOL的EDS增加了相分析功能，可以對每種物質(zhì)（化合物/單體）進行面分布分析。
樣品：精密切削刀片的截面
相分析表明，Co、Cu和Sn富區(qū)組分存在差異。
Co area: 68.15%
CuSn (CuRich) area: 16.25%
CuSn (SnRich) area: 14.54%
應用實例
1. 電子器件
JSM-IT710HR的應用特性：高分辨、高對比度、廣域觀察。
》
》布線圖
利用低真空功能，對布線圖表面進行大面積觀察。
樣品：布線圖表面, 倍率：×200 (左), ×300 (右), 真空壓力： 70 Pa, 加速電壓： 15 kV
》SRAM
》AL焊盤
通過同時獲取低真空二次電子像和背散射電子像，可以獲取大面積試樣表面的形貌信息和成分信息。
樣品：AL焊盤表面, 倍率: ×100, 真空壓力: 70 Pa, 加速電壓: 15 kV
》鋼鐵
適用于EBSD分析的光學系統(tǒng)（肖特基場發(fā)射槍和透鏡外物鏡）
》能源和陶瓷
JSM-IT710HR的分析能力和低真空功能
鈣鈦礦太陽能電池基片納米層的高精度分析
陶瓷基片(Si3N4)
低真空功能可以進行非導電樣品分析
加速電壓: 5 kV, 低真空元素面掃 (30 Pa), 機器銑削的氮化硅基片表面*
*表面光潔度：機銑后平面氬離子銑
》軟質(zhì)材料與生命科學
JSM-IT710HR 的低加速電壓、低真空功能以及超低倍率觀察
ABS樹脂
即使在幾萬倍的放大倍數(shù)下，也可以進行高精度和穩(wěn)定亮度的多幅圖像觀察。
明膠
高亮度，高分辨二次電子像
人造血管
在載玻片上從低倍率到高倍率觀察生物樣品。
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