目錄:北京瑞科中儀科技有限公司>>激光橢偏儀>> SE 400adv多角度激光橢偏儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池 |
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亞埃精度
多角度激光橢偏儀穩(wěn)定的氦氖激光器保證了0.1埃精度的超薄單層薄膜厚度測量。
擴展激光橢偏儀的極限
多角度激光橢偏儀性能優(yōu)異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數(shù)和膜厚。
高速測量
我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長和終點檢測，或者做樣品均勻性的自動掃描。
激光橢偏儀SE 400adv可用于從可選擇的、應(yīng)用特定的入射角度表征單層薄膜和基片。自動準直透鏡確保在大多數(shù)平坦反射表面的吸收或透明襯底上進行準確測量。多角度測量的集成支持(40°—90°,5°步進)，可用于確定層疊的厚度、折射率和消光系數(shù)。為了補償激光橢偏測量中厚度測量的模糊性，在厚度測量中也采用了多角度測量。
SENTECH激光橢偏儀SE 400adv，用于超薄單層薄膜的厚度測量。小型臺式儀器由橢偏儀光學部件、角度計、樣品臺、自動準直透鏡、氦氖激光光源和檢測單元組成。我們的激光橢偏儀SE 400adv的選項支持在微電子、光伏、數(shù)據(jù)存儲、顯示技術(shù)、生命科學、金屬加工等領(lǐng)域的應(yīng)用。
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