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上海凱朗儀器設(shè)備廠
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了解電子天平內(nèi)部校準(zhǔn)與外部校準(zhǔn)的區(qū)別
2017-6-30 閱讀(1033)
了解電子天平內(nèi)部校準(zhǔn)與外部校準(zhǔn)的區(qū)別
電子分析天平是實驗室中常用的實驗設(shè)備，在使用過程中因存放時間較長、位置移動、磁場變化、環(huán)境溫度變化等因素，為獲得測量，分析天平再次使用前一般都應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)操作。具體介紹一下電子天平內(nèi)部校準(zhǔn)與外部校準(zhǔn)的區(qū)別及優(yōu)勢，
一、ABS-120N為外部校準(zhǔn)天平，用戶需要定期使用E2級砝碼對天平進(jìn)行外部校準(zhǔn)；
1.校準(zhǔn)天平前期準(zhǔn)備：
將天平放置水平的臺面上，并保證無風(fēng)，附近沒有帶磁性的東西，調(diào)整天平的水平儀，取下秤盤上所有被測物，天平設(shè)置為開機的默認(rèn)值。輕按<去皮>鍵，天平清零后顯示為0.0000g。
ABS-120N電子分析天平：開啟天平 → 清除秤盤上物品，按下TARE鍵 → 屏幕顯示‘0.0000’→ 按下CAL鍵 → 此時屏幕會顯示需要放置砝碼的重量并閃爍 → 將符合要求的砝碼放置在秤盤中央位置 → 等待約60秒后，屏幕會重新顯示‘0.0000’并閃爍 → 將砝碼移除，屏幕顯示‘END’后顯示數(shù)值歸零 → 校準(zhǔn)操作完成。
二、ABJ-120NM為內(nèi)部校準(zhǔn)天平
ABJ-120NM為內(nèi)部校準(zhǔn)天平，天平會在連續(xù)開機的情況下每4個小時，或溫度變化大于2度的情況下，進(jìn)行自動內(nèi)部校準(zhǔn)。（為了內(nèi)部校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性，建議用戶定期對天平內(nèi)置砝碼進(jìn)行外部校準(zhǔn)檢測，同樣需要使用E2級砝碼）
ABJ-120NM系列：（自動內(nèi)校）開啟天平 → 清除秤盤上物品，按下TARE鍵 → 屏幕顯示‘0.0000’→ 按下CAL鍵 → 屏幕會依次顯示‘CAL 3’‘CAL 2’‘CAL 1’‘CAL 0’‘END’→ 待屏幕重新顯示‘0.0000’后，校準(zhǔn)操作完成。
ABJ-120NM系列：（校準(zhǔn)檢測）開啟天平 → 清除秤盤上物品，按下TARE鍵 → 屏幕顯示‘0.0000’→ 按住CAL鍵約3秒 →屏幕顯示‘CAL ExE’→ 使用PRINT件進(jìn)入選項 → 利用UNIT和MENU鍵進(jìn)行選擇，‘I CAL’為內(nèi)部校準(zhǔn)，‘E CAL’為外部校準(zhǔn) → 選擇外部校準(zhǔn)后，按TARE鍵確認(rèn) → 按住ON/OFF鍵約3秒后，返回稱重界面 →完成此設(shè)置后，利用外置砝碼，參照外部校準(zhǔn)的方法，對天平進(jìn)行外部校準(zhǔn)，以完成對內(nèi)置砝碼的檢測。
三、內(nèi)部校準(zhǔn)與外部校準(zhǔn)的區(qū)別及優(yōu)勢：
外部校準(zhǔn)工作進(jìn)行在天平工作之前，能保證電子天平稱量前的準(zhǔn)確性。如若在稱量過程中環(huán)境發(fā)生變化，此時電子天平并不能及時反饋給操作人員，進(jìn)而可能導(dǎo)致稱量的不準(zhǔn)確性。
內(nèi)部校準(zhǔn)技術(shù)可以有效避免此等不穩(wěn)定因素所造成的誤差。
內(nèi)校電子天平校準(zhǔn)時比較便捷。一般有一個內(nèi)校按鍵，按下這個按鍵，電子天平就可以自動校準(zhǔn)了。使用內(nèi)校天平在稱量過程中，天平自身可以自動檢測到不穩(wěn)定的環(huán)境因素變化，并隨時自動校準(zhǔn)，進(jìn)而達(dá)到持續(xù)校準(zhǔn)、持續(xù)穩(wěn)定的工作狀態(tài)，從而使測量結(jié)果更加準(zhǔn)確。
