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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池 |
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KP Technology掃描開爾文探針-材料表征
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測試系統(tǒng)。
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征
主要特點：
● 功函分辨率< 3meV
● 掃描面積：5mm to 300mm（四種型號，每種型號掃描面積不同）
● 掃描分辨率：317.5nm
● 自動高度調(diào)節(jié)
應(yīng)用領(lǐng)域：
● 有機和非有機半導(dǎo)體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機光伏材料
● 腐蝕
升級附件：
● 大氣光子發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮氣環(huán)境箱
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