產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)

1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。

2.測試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集，并通過計算器實時輸出。

3.對于一些機(jī)械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進(jìn)行無損檢測。

4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析，從而達(dá)到快速檢測。

5.分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。

光譜分析儀的缺點(diǎn)

1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準(zhǔn)確檢測。

2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結(jié)果不能做為國家認(rèn)證依據(jù)。

3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對壟斷的因素，購買和維護(hù)成本都比較高，性價比較低。

4.需要大量代表性樣品進(jìn)行化學(xué)分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實際。

5.模型需要不斷更新，在儀器發(fā)生變化或者標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時，模型也要變化。

6.建模成本很高，測試成本也就比較大了，當(dāng)然對于大量樣品檢測時，測試成本會下降。

7.易受光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)等外部或內(nèi)部因素影響，經(jīng)常出現(xiàn)曲線非線性問題，對檢測結(jié)果的準(zhǔn)確度影響較大。

國產(chǎn)X熒光光譜EDX4500H分析儀技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號：EDX 4500H

產(chǎn)品名稱：X熒光光譜分析儀

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時分析元素：一次性可測幾十種元素

測量時間：30秒-200秒

探測器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

國產(chǎn)X熒光光譜EDX4500H分析儀標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探測器

數(shù)字多道技術(shù)

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭

自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片

自動穩(wěn)譜裝置

三重安全保護(hù)模式

可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)

90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏

真空泵

性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際良好水平

新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍

自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性

高信噪比的電子線路單元

針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣

解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制

內(nèi)置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

應(yīng)用領(lǐng)域

X熒光光譜分析儀合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）