X熒光EDX3600光譜分析儀性能特點

三重安全保護(hù)模式
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
任意多個可選擇的分析和識別模型
高信噪比的電子線路單元
全元素測試X熒光分析軟件
與傳統(tǒng)儀器相比，新增加的抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的版圖
采用世界上的SDD硅漂移探測器，分辨率至139ev，更好的檢測鉑金中銥和金的含量
提供多種準(zhǔn)直器，直徑小達(dá)0.2mm，輕松實現(xiàn)精小部位的測試
精選全球優(yōu)質(zhì)組件組件
真空腔
在分析低含量的輕元素時，必須使用真空泵設(shè)備把空氣抽出，使內(nèi)部在真空狀態(tài)下對輕元素進(jìn)行分析。
真空泵（選配）
極限真空：6×10-2 帕轉(zhuǎn)速：1400 轉(zhuǎn)/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦

X熒光EDX3600光譜分析儀技術(shù)指標(biāo)

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
同時分析元素：30種元素同時分析
元素含量分析范圍：1ppm-99.99%
能量分辨率為：140±5ev
測量時間：60s-200s（可調(diào)）
制冷方式：電制冷，無需任何耗材
環(huán)境溫度：10℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
輸入電壓：AC 110V/220V
管壓：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
樣品腔尺寸：334×500×80mm
外觀尺寸：670×533×855 mm
重量：80kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

美國Amptek*SDD探測器
數(shù)字多道分析器
放大電路、高低壓電源、高效X光管
計算機、打印機、真空泵（選配）、穩(wěn)壓電源（選配）
軟件：貴金屬分析軟件（標(biāo)配）、鍍層分析軟件（選配）、有害元素分析軟件（選配）

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測?？蓮V泛應(yīng)用于珠寶首飾中輕元素的檢測。
分析元素:金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等