可與雙晶探頭和單晶探頭兼容

寬泛的厚度測量范圍：0.08毫米到635毫米，具體可測厚度根據(jù)材料和所選探頭而定

使用雙晶探頭進行腐蝕測厚操作

穿透涂層（THRU-COAT）和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料

內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項

對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米

在使用頻率范圍為2.25 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭時，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量

多層軟件選項可同時對多層材料的各層進行厚度測量，最多可同時測量4層

高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料

厚度、聲速和渡越時間的測量

差分模式和縮減率模式

時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可回顧的讀數(shù)

帶有數(shù)字式濾波器的奧林巴斯高動態(tài)增益技術

用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能

設計符合EN15317標準

標準配置

38DL PLUS數(shù)字式超聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz ～ 60 Hz。

標準雙晶探頭的套裝

充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器

GageView接口程序

試塊和耦合劑

USB線纜

橡膠保護套，帶有儀器支架和頸掛帶

《用戶手冊》

兩年有限質保

測量功能：

穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、最小值/最大值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調用應用、溫度補償、平均值/最小值模式