玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x是大尺寸玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x和玻璃彎曲度測(cè)試儀,廣泛用于翹曲度測(cè)量,彎曲度測(cè)量,表面形貌測(cè)量和鍍膜測(cè)量等。,玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x,玻璃彎曲度測(cè)試儀由...
晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款多功能晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x是為晶圓生產(chǎn)線上自動(dòng)晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)計(jì)的大型自動(dòng)晶圓測(cè)量?jī)x器,具有晶圓厚度測(cè)量,晶圓翹曲度測(cè)量,晶圓BOW/WARP測(cè)量,晶圓wave...
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀是專用為晶圓品質(zhì)檢驗(yàn),測(cè)量少子壽命,測(cè)量光電導(dǎo)率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測(cè)試儀器
晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x是專業(yè)為晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的少子壽命測(cè)試儀器。
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量?jī)x系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測(cè)量?jī)x器,對(duì)不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征。
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀 參考價(jià)：面議
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀是為晶圓晶錠測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計(jì)的晶圓晶錠少子壽命測(cè)試儀器。采用非接觸式檢測(cè)和無損成像（μPCD /...
溫度型少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
這款溫度型少子壽命測(cè)試儀是為25℃~200℃范圍內(nèi)晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的溫度決定型少子壽命測(cè)定儀器。
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測(cè)設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無人值守薄膜測(cè)量。測(cè)量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測(cè)厚儀,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
聚合物薄膜測(cè)厚儀用于測(cè)量polymer films(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
進(jìn)口光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...
磁場(chǎng)屏蔽消磁儀 參考價(jià)：面議
這款磁場(chǎng)屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應(yīng)用的單軸磁場(chǎng)消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當(dāng)磁場(chǎng)傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應(yīng)用。
磁場(chǎng)消除系統(tǒng),磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
磁場(chǎng)消除系統(tǒng)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場(chǎng)噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像MRI,...
主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng)ECS 參考價(jià)：面議
主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng) ECS是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場(chǎng)干擾而設(shè)計(jì)的主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽和主動(dòng)消磁裝置系統(tǒng).用于為科學(xué)儀器裝置免受磁場(chǎng)干擾影響的環(huán)境.
薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x采用光譜反射計(jì)技術(shù)測(cè)量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
手持式薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款手持式薄膜測(cè)厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測(cè)量,薄膜吸收率測(cè)量,薄膜透過率測(cè)量,薄膜反射率測(cè)量,薄膜熒光測(cè)量等，這...
光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n...
光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
這款光學(xué)薄膜測(cè)厚儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測(cè)量薄膜反射光譜進(jìn)測(cè)量薄膜厚度和測(cè)量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測(cè)量。
進(jìn)口大型晶圓探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
大型晶圓探針臺(tái)600LS是專業(yè)為300mm晶圓測(cè)試設(shè)計(jì)的大尺寸晶圓測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測(cè)試應(yīng)用。
磁場(chǎng)低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
磁場(chǎng)低溫探針臺(tái)采用MicroXact低溫磁探針臺(tái)技術(shù),滿足電磁鐵、超導(dǎo)磁體或電磁鐵和超導(dǎo)磁體的組合測(cè)試應(yīng)用。
進(jìn)口無氦低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
無氦低溫探針臺(tái)CPS-CF是為極低溫探針測(cè)試設(shè)計(jì)的閉循環(huán)低溫探針臺(tái)系統(tǒng),適合低溫下對(duì)器件和電路進(jìn)行探針測(cè)試。
半自動(dòng)真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)真空探針臺(tái)SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對(duì)多達(dá)100mm...
磁探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款磁探針臺(tái)可提供三維磁場(chǎng)控制,滿足磁性控制RF探針測(cè)試應(yīng)用.作為磁場(chǎng)探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)了平面磁場(chǎng)的任意操控,方便自旋電子器件探針測(cè)試.
進(jìn)口高溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款高溫探針臺(tái)是為高溫環(huán)境器件測(cè)試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺(tái)分析測(cè)試而設(shè)計(jì)。
閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái)是半自動(dòng)低溫真空探針臺(tái),可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測(cè)試經(jīng)驗(yàn)和器件。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
9