動態(tài)超快掃描和透射電子顯微鏡,高通量材料化學透射電鏡,超高通量生物透射電鏡,原位透射電鏡,原位掃描電鏡,原位原子力顯微鏡,原位原子力與掃描關聯電鏡,便攜式EDX掃描電鏡
產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,生物產業(yè),地礦,能源,航空航天 |
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LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM),"即插即用",專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設計。
新穎的探針和電子顯微鏡關聯(CPEM) 技術可實現納米級精確的快速 AFM 和 SEM 數據關聯。
• 快速、即插即用地集成到 SEM 中
• 兼容FIB、GIS、EDX等標準 SEM 附件
• 高度可定制
• 也可用作獨立的原子力顯微鏡
關鍵技術優(yōu)勢
1、復合且相關的樣品分析
關鍵的 CPEM 技術可以同時采集 AFM 和 SEM 通道并將它們無縫關聯到 3D圖像中。
2、原位樣品表征
SEM 內部的原位條件可確保在相同時間、相同地點和相同條件下進行樣品分析。
3、精確定位感興趣區(qū)域
極其精確和省時的方法使用 SEM 將 AFM 針尖導航到感興趣的區(qū)域,從而實現快速和輕松的定位。