Dereo 面陣平板探測器應用領域
在任何時間，任何地點隨時檢查
-電力工業(yè)、石化工業(yè)、航空航天等領域中的管道及板材焊接質量檢測。。。
-鑄件缺陷檢測，例如空隙，熱裂隙及雜質。
-復合材料的結構檢測
-文物（博物館，實驗室，大學。。。）
 

Dereo 面陣平板探測器主要特點：
便攜性  -在任何地方都能得到X射線影響
掃描面積  -40x40厘米的有效區(qū)域，適合拍攝較大物體
快速安裝  -隨時得到X射線影像
數(shù)字化    -直接得到結果
          -數(shù)字影像后處理
          -Tiff和jpg格式
          -容易存檔和報告
          -不需要更多的消耗品（膠片和化學試劑）與暗室
圖像質量  -高分辨率 高對比度（14位）
kV范圍    -可以用X射線穿透多種不同的物體和材料，從紙片到70毫米的鐵片
薄        -可以容易地將探測器放入被測物體與障礙物之間
實時攝像  -可以實時地得到X射線影像，并同步調節(jié)曝光參數(shù)，已得到影像
靈活性    -可以和任何種類的X射線發(fā)生器匹配工作
經濟實惠  -具有非常*功能的高配置的系統(tǒng)，只需要低廉的價格


Dereo面陣平板探測器
有效面積：41x41cm
分辨率：200μm
灰度：14bits（16bits備選）
Gadox或SCI屏
外形尺寸：530x575x30mm
重量：小于11.4千克
無能量限制
實時成像：
-每秒1幀
-每秒4幀（可選）

Maestro軟件
實時濾鏡
可調節(jié)查找表（LUT）
放大縮小以及屏幕調整
黑白反轉
圖片旋轉
水平/垂直翻轉
修剪
測量/輪廓
可按需求提供任何語言版本，開發(fā)新的軟件工具。
DeReo工作站
-筆記本電腦
-屏幕尺寸15.6英寸或更大
-雙核32-bits或64bits處理器+集成顯卡
-RAM DDR3 Go
-Windows XP 32-bits or Windows 7（32bits or 64bits）

Dereo選件
實時成像
Wifi組件
電池供電
通過Maestro軟件控制GemX IP66儀器箱

GemX便攜式直流X射線發(fā)生器：            GemX-160(140kg)
-無線遙控:                             Yes
-電池供電（X射線連續(xù)30分鐘）或外接電源:Yes
-電壓范圍:                             20-160kV
-電流：                                0.1-2mA
-小焦點:                               Be or AI
-絕緣:                                 Oil（2h of X-ray/day）
-穿透力:                               1% contrast resolution up to 25mm with 
                                       Dereo（at 160kV）
-符合各種地形360度旋轉手柄:            Yes
-附件：                                Tripod，leadcap，laser point，...劑量計